XRD (X-ray Diffraction)

TX 2000 adalah spektrometer laboratorium canggih untuk analisa multi element trace analysis secara kuantitatif menggunakan prinsip kerja dari Total Reflection X-Ray Fluorescence (TXRF). TXRF berdasarkan pada prinsip kerja yang sama dengan tradisional X-Ray Fluorescence (XRF), meminimalkan atau menghilangkan efek matriks secara total, memungkinkan untuk menganalisa multi element ultra trace dan instrument detection limit bisa mencapai ppb dari Sodium (Na) hingga Plutonium (Pu). TX 2000 dilengkapi dengan sistem switching primary beam otomatis (Mo Ka, Wla/Lb dan bremsstrahlung 33 keV), Silicon Drift Detector dan high power X-Ray Tube sebagai solusi optimal untuk aplikasi lingkungan, kimia dan nuklir.